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NanoSystem NVM-6000P非接触式3D表面测量系统用于PCB基板表面形貌的测量。 基板上的Via Hole，Pad形状，pattern形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。 在高速测量下仍具有优秀的重复性和准确性，支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。

Nanosystem NVF-2700 非接触式3D轮廓仪，通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。

Nanosystem NV-2400非接触式3D轮廓仪通过非接触式的方法对0.1nm-270nm的3维表面形貌进行高进度和高速测量。利用物镜转台可方便的进行放大倍数的转换。使用拼接功能可分析宽广的表面。

Nanosystem NV-1000白光干涉仪是利用白光干涉特性来进行表面形貌的测量，它结合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一个非常大的面积高达21.7毫米x16.3毫米。这使得高精度和大面积快速测量成为可能，而无需缝合。

NanoSystem CS-2000气缸内壁表面形貌仪结合了无损分析性能, 操作便利。除了评估ISO粗糙度值, 采用白光干涉测量技术之外, 这款紧凑型系统还可以测量纳米尺度粗糙度, 亚纳米分辨率和生产水平能力的三维表面形貌。