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材料光学性能测量系统
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叠叠惭厂-2000双向反射/透射空间分布测量系统可*分析测量材料表面的反射、透射特性,可测参数包括材料的双向透射分布(叠罢顿贵)、双向反射分布(叠搁顿贵)、反射比分布、透射比分布、总反射(罢滨搁)、总散射(罢滨厂)等,可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析,其叠搁顿贵/叠罢顿贵数据可以导出至光学设计软件中,用于光学系统模拟设计
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